X射線熒光分析的優(yōu)點:
●最少或無需樣品制備
●無損分析
●可測元素范圍廣:Ti22 to U92
●可分析固體和溶液
●分析快速:幾秒內得到結果
●定性、半定量和全定量分析
●操作容易,只需要簡單培訓
詳細參數(shù) 請咨詢客服! 利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質量控制。X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備, 提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。
X-Strata920 – 性價比高,無損可靠
一款操作簡單的質量控制分析儀,滿足鍍層厚度測量和材料分析。
新型號設計
快速分析(幾秒)1-4層鍍層厚度
多款規(guī)格,例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺,滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品,例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要:
固定樣品臺
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品,如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經濟、實用
平面樣品臺設計,適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺
高度每英寸(25.4mm)可調,架構式樣品艙可容納高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品,如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺
用于自動化測量
方便根據(jù)測試位置放置樣品,并精準定位測量點
開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品,如印制線路板
樣品臺尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (寬)