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美國 Micromanipulator探針臺 P200L/4060/PM450

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產品簡介

P200L半自動探針臺?200毫米半自動晶圓探針臺。

詳細介紹

P200L半自動探針臺
?200毫米半自動晶圓探針臺
?可選NETPROBE-7控制軟件，帶晶圓圖、集成視頻、theta對準、子模具和模式識別

?提供給受歡迎的測試公司的驅動程序，包括Keysight、Keithley和LabVIEW
?可配置用于直流、射頻、微波和高功率應用
?-65C至400C可配置
微操作器P200L 200mm半自動探針臺標配單點接地和集成熱卡盤管道。為確?？煽啃院途_性，P200L采用絲杠-絲杠階段和壓盤驅動器，高穩(wěn)定性顯微鏡接口，支持所有高分辨率長工作距離顯微鏡。
?直接連接到標準的非基于Windows的控制器，或
?直接使用可選的NetProbe 7軟件，釋放包含的晶圓圖、集成視頻、theta校準、子模具和模式識別的功能

微操作人員致力于確保我們的半自動系統是靈活的，以便應用，如磁靈敏度測試，探針卡，毫米波，晶圓和板級測試?？梢陨壍揭粋€全自動探針臺
當不需要可編程性時，標準操縱桿控制允許簡單快速的操作。操縱桿直觀地操作站臺和探針臺。
P200L可配置局部干燥/屏蔽/黑暗環(huán)境和“頂帽"，用于低水平或低溫、無霜探測。支持三種溫度范圍：
?環(huán)境溫度（室溫）至400攝氏度
?0攝氏度至400攝氏度
?-65攝氏度至400攝氏度
P200L是一個高性能、高性價比的200mm半自動探針臺

4060手動探針臺
?高效手動150-200毫米晶圓探針臺
?單手抬板，有效更換樣品
?顯微鏡升降和鎖定
?可配置用于直流、射頻、微波和高功率應用
?-65C至400C可配置
4060型微操作器探針臺是一種高效通用的6-8"（150-200mm）手動分析探針臺。4060設計用于日常故障分析、設備特性和可靠性測試應用。4060站結合了高效使用的價值和一致、準確的電氣和機械性能的信心。4060是業(yè)界高效、穩(wěn)定、可靠的150/200mm通用探針臺

4060型探針臺的可用選項允許您根據特定需要進行配置。探針卡固定器、熱卡盤、機械手、的探針固定器、隔振臺、不透光外殼（LTE）和相機系統是流行的附件選項。工作站配置選項包括獨立的顯微鏡提升和鎖定桿組件、具有可調節(jié)顯微鏡提升延遲的平板提升和支持低溫無霜探測的集成黑暗干燥環(huán)境。4060支持三種溫度范圍：
?環(huán)境溫度（室溫）至400攝氏度
?0攝氏度至400攝氏度
?-65攝氏度至400攝氏度
4060型的性價比，再加上其高效的特性和堅固的可靠性，使其成為一個真正經濟高效的通用分析探針臺解決方案

PM450點手動探針臺
?可升級的手動150-200毫米晶圓探測器
?可配置用于直流、射頻、微波和高功率應用
?可選配環(huán)境溫度至400C
?設計用于隨應用程序增長
450PM可升級手動探針臺
450pm 8寸探針臺的設計是為了與您的應用程序一起成長，具有可升級性選項。450PM以其低擁有成本和穩(wěn)定可靠的探測性能提供了價值。基于微操作器的設計，流行的4060型探針臺，廣泛的應用范圍和靈活的選擇，450PM正在迅速成為成本良心測試實驗室的探針臺。
我們的客戶期望微操作探針臺提供穩(wěn)定、開放、靈活的設計，包括精密、可靠的機械。對于那些不需要4000和8000系列探針臺的低電流能力、精確定位和額外便利功能的客戶，450PM在更經濟的工作站上延續(xù)了這一傳統
從標準的450PM平臺開始，根據您的需要進行現場升級。流行的升級包括： ?高分辨率光學和光學定位
?環(huán)境溫度（室溫）至400℃的熱夾盤系統
?探頭卡硬件
?提高效率的因素
在一個易于升級的平臺上，適合微操作器的性能和可配置性

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