5100 – 跨越輕元素檢測(cè)!
牛津儀器推出革命性的手持式硅漂移探測(cè)器 X 射線熒光分析儀
X-MET5100 保證了鋁及鈦合金的實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量分析的精確性,它對(duì)檢測(cè)銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時(shí)的敏感性也是的。
這款堅(jiān)固的便攜式 XRF 輕元素測(cè)試工具,專為以下行業(yè)應(yīng)用而設(shè)計(jì):
- PMI 檢測(cè)行業(yè)
- 廢舊金屬回收行業(yè)
- 航空工業(yè)
X-MET5100結(jié)合了硅漂移探測(cè)器 (SDD)、45 千伏 X 射線管和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)分析方法,其特點(diǎn)為:
- 只需1秒即可準(zhǔn)確分析和確定金屬合金成分
- 無(wú)需借助復(fù)雜的真空泵或氦氣罐等附屬設(shè)備就可對(duì)鎂、鋁、硅等輕元素進(jìn)行測(cè)量
- 受限物質(zhì)(重金屬元素)、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質(zhì)可以得到快速準(zhǔn)確測(cè)量
- 在幾秒鐘之內(nèi),就可以得到 ppm 級(jí)的痕量元素檢測(cè)結(jié)果
- 的檢測(cè)速度和準(zhǔn)確性確保了高效可靠的實(shí)時(shí)檢測(cè)結(jié)果
- 符合 IP54 (NEMA 3) 防塵防水認(rèn)證要求,能夠承受的工作條件