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ZEISS EVO系列操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡平臺(tái)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

適用于日常檢測(cè)與研究應(yīng)用作為高性能的掃描電子顯微鏡，EVO 系列可為顯微鏡專家和新用戶帶來直觀且易操作的使用體驗(yàn)。憑借豐富的選件、EVO 可根據(jù)您的需求量身定制，無論是在生命科學(xué)、材料科學(xué)，或是在日常的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域。可選探頭: ......

詳細(xì)介紹

ZEISS EVO系列操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡平臺(tái)

適用于日常檢測(cè)與研究應(yīng)用

作為高性能的掃描電子顯微鏡，EVO 系列可為顯微鏡專家和新用戶帶來直觀且易操作的使用體驗(yàn)。憑借豐富的選件、EVO 可根據(jù)您的需求量身定制，無論是在生命科學(xué)、材料科學(xué)，或是在日常的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域。

可選探頭:

可選軟件:

產(chǎn)品詳情

當(dāng)您配置多功能解決方案用于顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室時(shí)，不同規(guī)格的樣品室和樣品臺(tái)選件可滿足您的各類應(yīng)用需求。即使是面對(duì)具有挑戰(zhàn)的大型工業(yè)部件和樣品，掃描電子顯微鏡也同樣能夠勝任。選用可提供更高電子束亮度以增強(qiáng)圖像分辨率和降低噪點(diǎn)的成熟技術(shù)六硼化鑭（LaB6）電子槍，讓掃描電子顯微鏡在圖像質(zhì)量下發(fā)揮出色的檢測(cè)性能。借助可變壓力操作模式，體驗(yàn)非導(dǎo)電樣品的成像和分析。安裝多種分析探測(cè)器的設(shè)計(jì)，可協(xié)助您完成要求嚴(yán)苛的顯微分析應(yīng)用。

的可用性

EVO 配置的兩種用戶界面 SmartSEM Touch 和 SmartSEM 可以滿足不同用戶的需求。SmartSEMTouch 采用觸摸屏操作，只需指尖輕觸便能輕松控制交互式工作流程。操作簡(jiǎn)單易上手，大大減少了培訓(xùn)所產(chǎn)生的工作量及成本。即便是新手用戶，也能在幾分鐘內(nèi)采集到出色的圖像。此外，該用戶界面也能為工業(yè)操作員提供幫助，他們需要自動(dòng)化工作流程來完成可重復(fù)的檢測(cè)任務(wù)。EVO 專業(yè)用戶則可通過使用顯微鏡計(jì)算機(jī)上安裝的 SmartSEM 用戶界面，找到高級(jí)成像所需的全部功能。

出色的圖像質(zhì)量

圖像質(zhì)量會(huì)因掃描電子顯微鏡下的待測(cè)樣品不同而有所差異。將可變壓力（VP）模式和我們的可變壓力與電流串聯(lián)二次電子（SE）探測(cè)器組合應(yīng)用，可為所有非導(dǎo)電樣品提供圖像質(zhì)量。擴(kuò)展壓力模式與水蒸氣和 C2DX 探測(cè)器相結(jié)合，使含水與重度污染的樣品保留其原始狀態(tài)，從而保護(hù)數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外，選用 LaB6 電子槍還能增強(qiáng)分辨率、對(duì)比度和信噪比，這在面對(duì)具有挑戰(zhàn)的成像與顯微分析時(shí)尤為重要。

工作流程自動(dòng)化和數(shù)據(jù)完整性

EVO 與其他顯微儀器良好互聯(lián)。它可作為半自動(dòng)化和多模式工作流程中的一部分，通過重新定位感興趣區(qū)域，并在多種模式下收集數(shù)據(jù)，從而使信息完整。EVO 可與蔡司數(shù)碼光學(xué)顯微鏡 Smartzoom 5 或任一其他復(fù)合光學(xué)顯微鏡組合使用。將光學(xué)與電子顯微鏡數(shù)據(jù)相結(jié)合，進(jìn)行材料表征或部件檢驗(yàn)?；?qū)?EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡組合，進(jìn)行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。